Investigation of the radiation hardness of GaAs sensors in an electron beam

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Investigation of the radiation hardness of GaAs sensors in an electron beam	273 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.1088/1748-0221/7/11/P11022

Title: Investigation of the radiation hardness of GaAs sensors in an electron beam
Creator: Bergholz, M.
|
Mokeev, D.
|
Novikov, Vladimir A.
|
Bernitt, P.
|
Tolbanov, Oleg P.
|
Tyazhev, Anton V.
|
Afanaciev, K.
Contributor: Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники
-: Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики полупроводников
-: Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Date: 2012
DOI: 10.1088/1748-0221/7/11/P11022

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Физический факультет | Радиофизический факультет | Сибирский физико-технический институт
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в журналах
Type: статьи в журналах
Source: Journal of instrumentation : electronic journal. 2012. Vol. 7, № 11. P. 11022 (1-11)
Language: eng

Created: 22-02-2013

3185 Visitors

3221 Hits

9 Downloads

Радиофизический факультет Investigation of the radiation hardness of GaAs sensors in an electron beam